Aigetk線束測(cè)試儀的測(cè)試項(xiàng)及注意事項(xiàng)

ATX-3064是臺(tái)式線束測(cè)試儀，于各種線纜，線束和排線品質(zhì)及連接可靠性檢驗(yàn)的多功能，自動(dòng)化的線束參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)。設(shè)備可單*操作，亦可連接至電腦操作，基于模塊化設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)，四線制電阻測(cè)試，測(cè)試精度高。兼容智能化測(cè)試軟件及大型數(shù)據(jù)庫(kù)，幫助客戶(hù)進(jìn)行數(shù)據(jù)對(duì)比分析。每次開(kāi)機(jī)系統(tǒng)自檢，以確保測(cè)試系統(tǒng)準(zhǔn)確、可靠運(yùn)行。

ATX-3064 線束測(cè)試儀的測(cè)試項(xiàng) :

①通斷測(cè)試（單點(diǎn)測(cè)試，導(dǎo)通電阻 R=500Ω）；

②自學(xué)習(xí)通斷測(cè)試（多點(diǎn)測(cè)試，導(dǎo)通電阻 R=500Ω）；

③電阻測(cè)試（< 20kΩ）；

④絕緣電阻測(cè)試（DC：50V~750V，R：10M~1000MΩ）；

⑤耐壓測(cè)試（AC：50V~500V，I：0.5mA~5 mA）。

注：電阻范圍為 20kΩ < R < 10MΩ時(shí)，低壓電阻測(cè)試結(jié)果返回 OL；

絕緣電阻測(cè)試結(jié)果返回<10M。

圖 10 分段測(cè)試主界面Aigtek 線束測(cè)試儀 ATX-3064 使用說(shuō)明書(shū)

（2）開(kāi)始測(cè)試

設(shè)置所需的測(cè)試項(xiàng)，起始點(diǎn)和終止點(diǎn)，選中開(kāi)始測(cè)試功能，可對(duì)起始點(diǎn)和終止點(diǎn)之間

的測(cè)試點(diǎn)快速測(cè)試，如圖所示。

圖 11 自學(xué)習(xí)通斷測(cè)試界面

（3）對(duì)比測(cè)試

在自學(xué)習(xí)通斷測(cè)試中，開(kāi)始測(cè)試功能完成后可將測(cè)試結(jié)果作為標(biāo)準(zhǔn)并與之進(jìn)行對(duì)比測(cè)

試，所得到的結(jié)果將會(huì)顯示不合格的測(cè)試點(diǎn)，如圖所示。

（4）清空記錄

清空測(cè)試列表的數(shù)據(jù)，進(jìn)行再次測(cè)試。Aigtek 線束測(cè)試儀 ATX-3064 使用說(shuō)明書(shū)

（5）保存數(shù)據(jù)

測(cè)試完成后，可保存樣本（保存路徑可自己選擇，方便查看）。

（6）注意項(xiàng)

①絕緣電阻測(cè)試

絕緣電阻測(cè)試檢測(cè)電壓允許范圍 DC：50V~750V；

絕緣電阻測(cè)試范圍 R：10M~1000MΩ；

檢測(cè)電壓（電壓越大精度越高）設(shè)定階段：10MΩ~100MΩ：50V~750V；

100MΩ~300MΩ：200V~750V；

300MΩ~700MΩ：400V~750V；

700MΩ~1000MΩ：500V~750V；

絕緣電阻值為合格的范圍電阻值下限；

電壓較高時(shí)測(cè)試時(shí)間加長(zhǎng)可提高測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確度 T：1.00S~99.00S（當(dāng)檢測(cè)電壓大于

400V 時(shí)測(cè)試時(shí)間應(yīng)大于 20S）。